小型高低溫交變?cè)囼?yàn)箱
適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
可定制,步入式高低溫試驗(yàn)室,芯片高低溫試驗(yàn)箱,模擬氣候試驗(yàn)箱,可根據(jù)樣品尺寸大小,定制規(guī)格。
用于測(cè)試各類電子元器件進(jìn)行精準(zhǔn)高溫、低溫、高低溫、恒溫恒濕,環(huán)境變化后的參數(shù)及性能(濕熱老化,高低溫儲(chǔ)存,高低溫循環(huán)等測(cè)試環(huán)境)。
配件 : 窗口,下上可調(diào)隔板兩片,測(cè)試孔Φ50mm 1孔,箱內(nèi)燈,濕布5片.記錄儀(選購(gòu))
符合試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1-2001/GB/T2423.2-2001/GB/T2423.3-1993/GB/T2423.4-1993